Publié le 15/03/2016 |
A l’occasion du salon « Machine to Machine » qui aura lieu les 23 et 24 Mars 2016 à Paris Expo Porte de Versailles, CLEARSY participera à la conférence Systematic et viendra présenter le projet collaboratif FUI WARUNA qui développe un atelier de modélisation pour la réalisation d’analyses temporelles de systèmes embarqués critiques à logiciel prépondérant.